什么是低濕型恒溫恒濕試驗(yàn)箱，所謂得低濕型恒溫恒濕試驗(yàn)箱，是在標(biāo)準(zhǔn)濕度的要求下，做更高要求的濕度標(biāo)準(zhǔn)。一般型的濕度范圍為20%~98%，低濕型的濕度范圍為10%~98%。如需要更高要求，可以定制5~98%得濕度標(biāo)準(zhǔn)。

低濕型恒溫恒濕試驗(yàn)箱規(guī)格參數(shù)：

1.溫度范圍：A:0~+150℃/B:-20~+150℃/C:-40~+150℃/D:-60~+150℃/-70~+150℃
2.控制穩(wěn)定度：±0.5℃
3.分布均勻度：±2℃
4.溫度解析精度：0.01℃
5.升溫時(shí)間：+20℃~+150℃小于45分鐘非線(xiàn)性空載。
6.降溫時(shí)間：+20~0℃小于30分鐘/+20~-20℃小于45分鐘/+20~-40℃小于60分鐘/ +20~-60℃小于90分鐘/+20~-70℃小于100分鐘非線(xiàn)性空載。
7.濕度范圍：低濕型：10％~98％RH；（可定制：5％~98％RH）
8.濕度均勻度：≤±3%R.H（+2、-3%RH）

低濕型恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GJB150.3-2009高溫試驗(yàn)
GJB150.4-2009低溫試驗(yàn)
GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）;
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：低溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）；
GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab 恒定濕熱試驗(yàn)（IEC 60068-2-78:2012,IDT）;
GB/T 2423.4-2008 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab 交變濕熱（12h+12h循環(huán)（IEC 60068-2-30:2005,IDT）;
GB/T 2423.22-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化（IEC 60068-2-14:2009，IDT）；
GJB 150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；
GJB/T 150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn)；
GJB/T 150.9-86 軍用設(shè)備環(huán)境曬云方法 第8部分 濕熱試驗(yàn)

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