一、產(chǎn)品簡介：
BIT（Burn-In Test）測試就是使用BIT軟件對固態(tài)硬盤進(jìn)行循環(huán)寫入測試，再放入高溫箱中靜置。PCIE SSD BIT測試柜可以提供SSD的BIT測試所需要的高溫老化環(huán)境，目的是為產(chǎn)品做潛在失效分析，因?yàn)樵陂L時間讀寫和高溫環(huán)境下，會加速芯片老化，可能導(dǎo)致故障提前出現(xiàn)。

二、技術(shù)參數(shù)：

三、產(chǎn)品特點(diǎn)：

單口最大速度4000MB/S，滿載同時工作時最高速度1500MB/S。
共12臺電腦，每臺電腦同時測試8個PCIE NVME SSD。
可配合自動測試軟件一鍵操作。
每個端口帶保護(hù)座，座子壞了直接換保護(hù)板。
每個端子配12V轉(zhuǎn)3.3V5A供電，提供充足的工作電流，并帶短路過流過熱保護(hù)。
插入下壓式母座，不會用久后接觸不良。
硅膠定位柱，輕松上下盤，用久后不會手痛，且上面盤效率更高。
有32、40、60、80各種長度的定位孔，適合測試各種長度的SSD。

四、BIT電氣規(guī)格：
單口輸出電壓：DC 3.3±0.15V
單口輸出最大電流：5A
電源輸出接口：96PCS
單口最大速度：32GBPS(PCIE GEN3*4)4000MB/S
滿載同時工作最大速度：16GBPS(PCIE GEN3*2)1500MB/S