SSD高低溫測(cè)試箱是一款針對(duì)SSD成品測(cè)試的高集成度測(cè)試平臺(tái)，可以在不同溫度環(huán)境下，直接測(cè)試SSD的壽命和其他多項(xiàng)性能參數(shù)，為NVMe固態(tài)硬盤的可靠性，數(shù)據(jù)安全保護(hù)能力提供有效的測(cè)試環(huán)境。

技術(shù)參數(shù)：

性能優(yōu)勢(shì)：

支持 SATAI/II/III 的測(cè)試；

支持 SSD測(cè)試片數(shù)高達(dá)72片；

支持（-70 度~+180 度）的測(cè)試；

支持異常斷電測(cè)試和老化測(cè)試；

支持自動(dòng)化溫控測(cè)試；

支持全部采用軟體進(jìn)行智能化控制測(cè)試；

支持測(cè)試測(cè)試軟體的定制化；

支持箱內(nèi)風(fēng)速與溫度均衡；

支持快速升降溫控制；

支持網(wǎng)絡(luò)化控制，可以異地控制測(cè)試并看測(cè)試結(jié)果；

支持 APP 遠(yuǎn)程控制測(cè)試；

主要試驗(yàn)步驟：

耐高溫：把試件放入高低溫試驗(yàn)箱中，以07-1℃/min的溫度變化速度將溫度調(diào)到90上2℃.待平衡后保特4h, 然后以同樣的速度降到室溫。

耐低溫：把試件放入高低溫試驗(yàn)箱中，以0.7-1℃/min的溫度變化速度，將溫度調(diào)到-25℃. 待平衡后保待4h, 然后以同樣的速度升到室溫。

溫度循環(huán)：把試驗(yàn)樣品分別放入高低溫試驗(yàn)箱中，按下列步驟調(diào)試溫度:

a)在(-25+2)℃的恒識(shí)條件下放置2h;

b)在常溫常濕條件下放置1h;

c)在(90±2)℃的恒溫條件下放置2h;

d)在常溫常濕條件下放置1h。

從a)到d)為一個(gè)循環(huán)周期共進(jìn)行5個(gè)循環(huán)，恢復(fù)2h后檢查。

如有SSD高低溫測(cè)試箱選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。